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超聲波對比試塊無損探傷試塊

簡要描述:產(chǎn)品型號和價格
A型T=25mm 2050
A型支架3# 1600
B型T=50mm 3150
B型支架5# 1600
C型T=100mm 4600
C型支架6# 1600
D型T=200mm 6000
D型支架8# 2200
E型T=400mm 22500
E型支架 2200
超聲波對比試塊無損探傷試塊

  • 產(chǎn)品型號:TOFD-A/B/C/D/E
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時間:2022-07-11
  • 訪  問  量:8003
詳情介紹

超聲波對比試塊無損探傷試塊

一、首先檢測前需要對檢測靈敏度進行確定,確定的方法一般應(yīng)采用對比試塊來進行。

根據(jù)NB 47013.10 衍射時差法超聲檢測標(biāo)準(zhǔn)要求:

1.當(dāng)采用對比試塊上的反射體設(shè)置靈敏度時,需要將較弱的衍射信號波幅設(shè)置為滿屏高的40%-80%,并在被檢工件表面掃查時進行表面耦合補償。

2.當(dāng)被檢工件厚度不大于50mm且采用單通道檢測時,也可直接在被檢工件上進行靈敏度設(shè)置,一般將直通波的波幅設(shè)置到滿屏高的40%-80%。

3.當(dāng)然也可以使用對比試塊進行校準(zhǔn),對于壁厚12mm≤t≤25mm的試塊,應(yīng)至少設(shè)置3個反射體,包括一個試塊表面的矩形槽,掃查面下4mm處一個2mm側(cè)孔,以及一個1/2t處尖槽或者一個側(cè)孔。(具體要求參見標(biāo)準(zhǔn))

如果用對比試塊進行靈敏度校準(zhǔn),則需要對比試塊上較弱的缺陷信號調(diào)至40%-80%之間。

TOFD(Time of Flight Diffraction)技術(shù)是一種基于衍射信號實施檢測的技術(shù),即衍射時差法超聲檢測技術(shù)??偟膩碚f。

二、TOFD技術(shù)有很多優(yōu)點:

1、可靠性好,由于利用的是波的衍射信號,不受聲束角度的影響,缺陷的檢出率比較高。
2、定量精度高。
3、檢測過程方便快捷。一般一人就可以完成TOFD檢測,探頭只需要沿焊縫兩側(cè)移動即可。
4、擁有清晰可靠的TOFD掃查圖像,與A型掃描信號比起來,TOFD掃查圖像更利于缺陷的識別和分析。
5、TOFD檢測使用的都是高性能數(shù)字化儀器,記錄信號的能力強,可以全程記錄掃查信號,而且掃查記錄可以長久保存并進行處理。
6、除了用于檢測外,還可用于缺陷變化的監(jiān)控,尤其對裂紋高度擴展的測量精度很高。
但是TOFD技術(shù)也有它自身的局限性:
1、對近表面缺陷檢測的可靠性不夠。上表面缺陷信號可能被埋藏在直通波下面而被漏檢,而下表面缺陷則會因為被底面反射波信號掩蓋而漏檢。
2、缺陷定性比較困難。
3、TOFD圖像的識別和判讀比較難,需要豐富的經(jīng)驗。
4、不容易檢出橫向缺陷。
5、復(fù)雜形狀的缺陷檢測比較難。
6、點狀缺陷的尺寸測量不夠精確。超聲波對比試塊無損探傷試塊







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