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階梯孔型像質(zhì)計在光學(xué)系統(tǒng)中的應(yīng)用

發(fā)布時間: 2023-12-15  點擊次數(shù): 2002次
  階梯孔型像質(zhì)計是用于測量現(xiàn)代光學(xué)系統(tǒng)的重要儀器之一,可以測量透鏡、棱鏡、反射鏡等光學(xué)器件的像質(zhì)。工作原理基于光通過孔徑時的衍射現(xiàn)象。當光線通過不同大小的孔徑時,會產(chǎn)生不同角度的光線,這些光線會隨著樣品的成像出現(xiàn)在不同的位置。通過觀察不同角度的光線在目鏡上的成像情況,可以得到樣品的像質(zhì)。根據(jù)樣品成像情況,可以確定樣品表面的形貌和誤差。
  

 

  階梯孔型像質(zhì)計的結(jié)構(gòu)組成:
  
  1.光源:提供光線源,一般采用白熾燈或者氙氣閃光燈。
  
  2.階梯孔:由多個不同大小的圓形孔組成,分別位于同一平面上,用于制造不同角度的光束。
  
  3.樣品架:用于放置待測樣品,可以通過微調(diào)平臺進行調(diào)整。
  
  4.目鏡:用于觀察樣品成像情況,一般采用目鏡或者CCD攝像頭。
  
  5.顯微鏡:用于觀察樣品表面形貌,一般采用高倍顯微鏡或者掃描電子顯微鏡。
  
  階梯孔型像質(zhì)計在光學(xué)系統(tǒng)中的應(yīng)用:
  
  1.光學(xué)元件制造:可以用于測量透鏡、棱鏡、反射鏡等光學(xué)器件的像質(zhì),確定光學(xué)元件的精度和誤差。
  
  2.光學(xué)系統(tǒng)調(diào)試:可以用于調(diào)試光學(xué)系統(tǒng),確定光學(xué)系統(tǒng)的成像性能和誤差。
  
  3.光學(xué)表面檢測:可以用于檢測光學(xué)表面的形貌和誤差,確定光學(xué)表面的精度和誤差。
  
  4.光學(xué)材料研究:可以用于研究光學(xué)材料的性質(zhì)和特性,確定光學(xué)材料的光學(xué)參數(shù)和誤差。

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