CSK-IB超聲波無(wú)損檢測(cè)對(duì)比試塊
簡(jiǎn)要描述:產(chǎn)品型號(hào)和價(jià)格CSK-IB超聲波無(wú)損檢測(cè)對(duì)比試塊 540翻轉(zhuǎn)架 400固定支架 180超聲波無(wú)損檢測(cè)對(duì)比試塊GB/T11345-2013標(biāo)準(zhǔn)
- 產(chǎn)品型號(hào):GB/T11345-2023標(biāo)準(zhǔn)
- 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間:2024-10-21
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CSK-IB超聲波無(wú)損檢測(cè)對(duì)比試塊GB/T11345-2013標(biāo)準(zhǔn)
水平線性又稱時(shí)基線性,或掃描線性。是指輸入到超聲檢測(cè)儀中的不同回波的時(shí)間間隔與超聲檢測(cè)儀顯示屏?xí)r基線上回波的間隔成正比關(guān)系的程度。水平線性影響缺陷位置確定的準(zhǔn)確度。水平線性的測(cè)試可利用任何表面光滑、厚度適當(dāng),并具有兩個(gè)相互平行的大平面的試塊,用縱波直探頭獲得多次回波,并將規(guī)定次數(shù)的兩個(gè)回波調(diào)整到與兩端的規(guī)定刻度線對(duì)齊,之后,觀察其他的反射回波位置與水平刻度線相重合的情況。其測(cè)試步驟如下:
1)將直探頭置于CSK-ⅠA試塊上,對(duì)準(zhǔn)25mm厚的大平底面,如圖a所示
2)調(diào)整微調(diào)、水平或脈沖移位等旋鈕,使示波屏上出現(xiàn)五次底波B1到B5,且使B1對(duì)準(zhǔn)2.0,B5對(duì)準(zhǔn)10.0,如圖b所示
3)觀察和記錄B2、B3、B4與水平刻度值4.0、6.0、8.0的偏差值a2、a3、a4。
CSK-IB試塊再原有的CSK-IA的基礎(chǔ)上增加了測(cè)試斜探頭折射角的刻度面。
CSK-IB超聲波無(wú)損檢測(cè)對(duì)比試塊使用要點(diǎn):
1、利用半徑R100mm曲面測(cè)定斜探頭的入射點(diǎn)和前沿長(zhǎng)度
2、利用Φ50和1.5mm圓孔測(cè)定斜探頭的折射角
3、利用試塊直角邊測(cè)定斜探頭聲束軸線的偏離情況
4、利用25mm厚度測(cè)定探傷儀水平線、垂直線和動(dòng)態(tài)范圍
5、利用25mm厚度調(diào)整縱波探測(cè)范圍和掃描速度
6、利用R50和R100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測(cè)范圍和掃苗速度
7、利用Φ50、Φ44和Φ40mm三個(gè)臺(tái)階孔測(cè)定斜探頭分辨力。
CSK-IB試塊再原有的CSK-IA的基礎(chǔ)上增加了測(cè)試斜探頭折射角的刻度面。
超聲波無(wú)損檢測(cè)對(duì)比試塊GB/T11345-2013標(biāo)準(zhǔn)